AOI和AXI主要進(jìn)行外觀檢查,如橋接、錯(cuò)位、焊點(diǎn)過大、焊點(diǎn)過小等，但無(wú)法對(duì)器件本 身問題及電路性能進(jìn)行檢查。其中AXI能檢測(cè)出BGA等器件的隱藏焊點(diǎn)，以及焊點(diǎn)內(nèi)氣 泡、空洞等不可見缺陷。
ICT和飛針測(cè)試注重于電路功能和元器件性能測(cè)試,如虛焊、開路、短路、元器件失效、 用錯(cuò)料等，但無(wú)法測(cè)量少錫和多錫等缺陷。ICT測(cè)試速度快，適合大批量生產(chǎn)的場(chǎng)合;而對(duì) 于組裝密度高，引腳間距小等場(chǎng)合則需使用飛針測(cè)試。
現(xiàn)在的PCB當(dāng)雙面有SMD時(shí)是非常復(fù)雜的,同時(shí)器件封裝技術(shù)也日趨先進(jìn)，外形趨向于 裸芯片大小，這些都對(duì)SMT板極電路的檢測(cè)提出了挑戰(zhàn)。具有較多焊點(diǎn)和器件的板子，沒有一 點(diǎn)缺陷是不可能的。前面介紹的多種檢測(cè)方法都有其各自測(cè)試特點(diǎn)與使用場(chǎng)合,但沒有任何 一種測(cè)試方法能完全將電路中所有缺陷檢測(cè)出來，因此需要采用2種甚至多種檢測(cè)方法。
1) AOI + ICT
AOI與ICT結(jié)合已經(jīng)成為生產(chǎn)流程控制的有效工具。使用AOI的好處有很多，如降低 目檢和ICT的人工成本,避免使ICT成為提高產(chǎn)能的瓶頸甚至取消ICT,縮短新產(chǎn)品產(chǎn)能提 升周期等。
2)AXI +功能測(cè)試
用AXI檢驗(yàn)取代ICT,可保持高的功能測(cè)試的產(chǎn)出率，并減少故障診斷的負(fù)擔(dān)。值得注 意的是,AXI可以檢查出許多能由ICT檢驗(yàn)的結(jié)構(gòu)缺陷,AXI還能查出一些ICT查不岀的缺 陷。同時(shí)，雖然AXI不能査出組件的電氣缺陷，但這些缺陷卻可在功能測(cè)試中檢出?？傊?， 這種組合不會(huì)漏掉制造過程中產(chǎn)生的任何缺陷。一般來說，板面越大,越復(fù)雜，或者探查越 困難,AXI在經(jīng)濟(jì)上的回報(bào)就越大。
3)AXI + ICT
AXI與ICT技術(shù)相結(jié)合是理想的，其中一個(gè)技術(shù)可以補(bǔ)償另一個(gè)技術(shù)的缺點(diǎn)。
AXI主要集中檢測(cè)焊點(diǎn)的質(zhì)量,ICT可決定元件的方向和數(shù)值，但不能決定焊點(diǎn)是否可 接受，特別是大的表面貼裝元件包裝下面的焊點(diǎn)。
通過使用專門的AXI分層檢查系統(tǒng)，能夠減少平均40%的所要求的節(jié)點(diǎn)數(shù)量。ICTS 點(diǎn)數(shù)的減少,降低了夾具的復(fù)雜性和成本，也得到了更少的誤報(bào)。使用AXI也將ICT處的第 一次通過合格率增加了 20%。通常在SMA焊接之后，誡品率不可能達(dá)到100%，或多或少會(huì) 岀現(xiàn)一些缺陷，有些缺陷屬于表面缺陷,影響焊點(diǎn)的表面外觀，不影響產(chǎn)品的功能和壽命，可 根據(jù)實(shí)際情況決定是否需要返修;但有些缺陷，如錯(cuò)位、橋接等,會(huì)嚴(yán)重影響產(chǎn)品的使用功能 及壽命，此類缺陷必須要進(jìn)行返修或返工。
